巩毓震透射电子显微镜的两大功能

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透射电子显微镜(TEM)是一种在电子显微镜(EM)中使用的一种成像技术,能够对薄片样品进行高分辨率成像。TEM具有两大功能,分别是成像和电子显微镜。

成像功能

TEM的成像功能是通过将电子束从样品的表面反射或透射而形成的。当电子束撞击样品时,样品中的原子会受到激发并向外发射电子。这些电子被探测器收集,并形成图像。通过使用不同的电子束能量和探测器,TEM可以提供不同层次的图像,包括原子级别的结构。

TEM的成像功能可以用来观察样品的微观结构,如细胞、细胞器、晶体和金属等。通过观察这些结构,科学家可以了解物质的性质、结构和功能。

电子显微镜功能

TEM的另一个功能是作为电子显微镜使用。电子显微镜是一种使用电子束而不是光束成像的显微镜。电子束可以产生高分辨率的图像,并且电子束的聚焦和调节可以提供比光束更高级的成像。

通过TEM,科学家可以使用电子束来观察样品的微观结构,并获得比光学显微镜更高的分辨率。TEM还可以用于研究样品中的电子性质,如电导、绝缘性、半导体和金属等。

结论

透射电子显微镜(TEM)是一种非常有用的成像技术,具有成像和电子显微镜两大功能。通过TEM成像,科学家可以观察样品的微观结构,并通过电子显微镜观察电子性质。TEM在材料科学、纳米技术、生物医学和能源等领域的应用非常广泛,已经成为一种基本的研究工具。