-
巩毓震静电测试标准及方法测叶片的电阻是多少
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。静电测试是一种常用的叶片电阻测量方法。叶片电阻是衡量叶片导电性能的重要指标,对于分析叶片传热、传电等性能具有重要作用。本文将介...
16 -
巩毓震透射电镜样品制备过程图片高清
透射电镜(TEM)是一种广泛用于研究微小物质结构和性质的高分辨率的电子显微镜。在TEM实验中,样品的制备对于获得清晰的图像和准确的数据分析至关重要。本文将详细介绍TEM样品制备的一般过程,包括样品清洗...
125