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巩毓震透射电镜的结构
透射电镜(TransmissionElectronMicroscope,简称TEM)是一种高能电子显微镜,是研究物质微观结构和性质的常用设备。透射电镜通过加速电子从样品表面飞出,形成电子图像来观察物质...
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巩毓震扫描电子显微镜的原理和构造
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。扫描电子显微镜(Scann...
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巩毓震简述扫描电子显微镜的工作原理
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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巩毓震扫描电镜的基本原理和特点
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。扫描电镜(ScanningElectronMicroscope,简称SEM)是一种使用电子束而不是光束成像的显微镜,能够观察微...
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巩毓震透射电镜步骤图
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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巩毓震扫描电镜教程图片
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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巩毓震透射电镜工作原理及样品制备方法
纳瑞科技(北京)有限公司(IonBeamTechnologyCo.,Ltd.)成立于2006年,是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有着多年经验的技术骨干创立而成。透射电镜(TEM,透射电子...
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巩毓震扫描电镜精度级别
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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巩毓震扫描电镜基本结构
纳瑞科技的服务将为IC芯片设计工程师、IC制造工程师缩短设计、制造时间,增加产品成品率。我们将为研究人员提供截面分析,二次电子像,以及透射电镜样品制备。我们同时还为聚焦离子束系统的应用客户提供维修、系...
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巩毓震为什么扫描电镜要杜绝粉末污染?
fib芯片提供维修、系统安装、技术升级换代、系统耗材,以及应用开发和培训。扫描电镜是一种高能电子显微镜,可以观察到物质微观结构的高分辨率图像。在扫描电镜观察过程中,粉末污染是一个常见的问题。粉末污染是...
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